Roundtest RA-1600 FS70LTHS Mitutoyo 378-186-4

Dostępność: średnia ilość

Wysyłka w: 14 dni

Dostawa: Cena nie zawiera ewentualnych kosztów płatności sprawdź formy dostawy

Cena brutto: 48 843,30 zł 48843.30

Cena netto: 39 710,00 zł

ilość szt.

towar niedostępny

Ocena:

Producent:

Kod produktu: 378-186-4

Roundtest RA-1600 FS70LTHS Mitutoyo 378-186-4

Cechy produktu

Doskonała funkcjonalność wraz z opcjonalnym rewolwerem obracającym się do wewnątrz i wysokiej jakości obiektywami o dużej odległości roboczej.
Idealny jako jednostka mikroskopowa stacji sond do półprzewodników.
Modele L i L4 obsługują długości fal lasera YAG w zakresie od 266 do 1064 nm, umożliwiając cięcie laserowe cienkich folii i podłoży dla materiałów ciekłokrystalicznych.
Ergonomicznie zaprojektowane pokrętło pozwalające na zgrubne oraz dokładne ustawianie ostrości.

Regulacja ogniskowej	Metoda: Ze współosiowymi pokrętłami ogniskowania zgrubnego i dokładnego (z lewej i z prawej strony) Zakres : przejazd 50mm , 0,1mm/obr. regulacja dokładna, 3,8mm/obr. regulacja zgrubna
Źródło światła	Opcjonalny światłowód 12,0 V / 100,0 W, regulacja non-stop, długość światłowodu 1,5 m, pobór mocy 150,0 W
Rozstaw źrenic	Typu Siedentopf, zakres regulacji : 51-76mm
Kąt przechylenia	0°- 20° (tylko modele - TH, - THS)
Gniazdo kamery	Do wykorzystania dla lasera.
System oświetlenia	Zaprojektowany do oświetlenia odblaskowego jasnego pola (oświetlenie Koehlera z przysłoną)
FS-70L/L4	FS70L obsługuje trzy zakresy długości promieniowania laserów YAG (1 064nm, 532nm oraz 355nm), podczas gdy FS70L4 obsługuje dwa zakresy długości fal (532nm oraz 266nm). Zwiększa to możliwości wykorzystania laserów umożliwiając cięcie laserowe cienkich warstw podłoży ciekłych kryształów i półprzewodników. Firma Mitutoyo nie bierze żadnej odpowiedzialności związanej z jakością i/lub bezpieczeństwem wykorzystania systemów laserowych z mikroskopami Mitutoyo. Przy wyborze jednostki emitującej promieniowanie laserowe zalecana jest szczególna ostrożność. Możliwość obserwacji w polu jasnym, z kontrastem różniczkowo-interferencyjnym (DIC) oraz obserwacji w świetle spolaryzowanym to standard w modelu FS70Z. Modele FS70L oraz FS70L4 nie obsługują metody DIC.

Kraj wysyłki:

Wyświetlane są wszystkie opinie (pozytywne i negatywne). Nie weryfikujemy, czy pochodzą one od klientów, którzy kupili dany produkt.